关于镀层测厚仪技术特征上的详细内容讲解

  测试镀层厚度有专门的检测仪,电镀镀层检测仪。可能大家对镀层测厚仪不是很了解,这是检测分析金属镀层厚度的仪器设备。目前在市场上,使用比较多的是X射线(XRF)荧光镀层测厚仪,在使用中有喝多优点,不论是测试对象还是测试方法,相对其他类型测厚仪都有优势。


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iEDX-150WT镀层测厚仪




  一、镀层测厚仪的特性:

  若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K轨道,一个K轨道上的电子已事先被游离,另一个电子即代替他的地位,此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射,而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的一种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射,此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%,而Lβ辐射能量较Lα大约20%,所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

  镀层测厚仪在开始测试时候最好进行几次简单的测试工作,不仅是确保设备的可用性(正常性),同时也检验镀层测厚仪各个接口是否符合标准;


  二、镀层测厚仪的原理 

        1、首先对我们要了解XRF如何测量元素成分含量的: 

         一个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示:F▪I=C,(这里C是样品含量,F是光谱中此元素比例系数,I是此元素在光谱中的激发强度),首先标样中已知C(此处用百分比表示),将此标样放入光谱,按着测试条件开X射线激发标样,此时得到一个I的值,C/I=F(这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数)。 

        之后,待测样品放入光谱,同样条件用X射线激发样品,获得待测样品的I值,用这个I值乘以之前得到的F值,F▪I=C 就能计算出此样品的含量C的值,这就是XRF测量元素含量的基本原理。 


        2、镀层测厚仪膜厚原理: 

        同理,Th=F▪I (这里Th是厚度,单位微米或其他长度单位) 

        首先也是用标样来标定,求出此样品的某元素镀层厚度强度比F。 

        测试待测样品时,用待测样品的镀层元素激发的I值乘以之前得到的F值,F▪I=Th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。 


  以上内容是对镀层测厚仪技术特征上面的讲解,最后要提醒大家的是所得数据,不能只单看一面,要综合多方面的测试结果,从而合理判断,其中涉及到数据有MAX值、MIN值、误差值以及平均值等等。


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创建时间:2018-12-03 17:28
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